Leica EM TIC 3X 徠卡三離子束切割儀
新版 EM TIC 3X 恪守我們的格言：與用戶合作，使用戶受益”，以注重實(shí)用性的方式將性能和靈活性理想融合。
最新的 EM TIC 3X 切割速度翻倍，根據(jù)您的應(yīng)用需求提供五種不同的載物臺(tái)供您選擇，實(shí)用性得到進(jìn)一步提升。
可復(fù)制的結(jié)果
Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可制備橫切面和拋光表面，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
使用 Leica EM TIX 3X，您幾乎可以在室溫或冷凍條件下，對(duì)任何材料實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)的表面處理，盡可能顯示樣品近自然狀態(tài)下的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
帶來(lái)前所未有的便利！
效率
對(duì)于離子束研磨機(jī)的效率來(lái)說(shuō)，真正重要的是同時(shí)具備出色的品質(zhì)結(jié)果和高產(chǎn)量。與前代版本相比，全新版本不僅切割速度提高了一倍，其獨(dú)特的三離子束系統(tǒng)還優(yōu)化了制備質(zhì)量，并縮短了工作時(shí)間。一次可處理樣品多達(dá) 3 個(gè)， 并可在同一個(gè)載物臺(tái)上進(jìn)行橫切和拋光。
工作流程解決方案可安全、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)。
靈活的系統(tǒng) — 隨時(shí)滿足您的需求
憑借可靈活選擇的載物臺(tái)，Leica EM TIC 3X 不僅是進(jìn)行高產(chǎn)量處理的理想設(shè)備，還適用于委托檢測(cè)的實(shí)驗(yàn)室。根據(jù)您的需求，可選擇以下可互換的載物臺(tái)對(duì) Leica EM TIC 3X 進(jìn)行個(gè)性化配置：
- 標(biāo)準(zhǔn)載物臺(tái)
- 多樣品載物臺(tái)
- 旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)
- 冷卻載物臺(tái)或
- 真空冷凍傳輸對(duì)接臺(tái)
用于制備標(biāo)準(zhǔn)樣品、高產(chǎn)量處理，以及在低溫條件下制備對(duì)高溫異常敏感的樣品，例如聚合物、橡膠或生物材料。
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