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Apreo S Hivac
產(chǎn)品描述
參數(shù)
技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域
Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有最廣泛地適用
性,可以在最短時間內(nèi)為材料研究人員提供卓越的成
像質(zhì)量。
當(dāng) Apreo 的電子束打開,形貌和成分襯度可以同時被鏡筒內(nèi)探測系統(tǒng)
呈現(xiàn):無需繁瑣操作,即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大
倍率下,Apreo 的長工作距離(如 10mm 分析工作距離)也能表現(xiàn)出
杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上,Apreo的
用戶界面也可以高效地引導(dǎo)操作者獲得表征該納米結(jié)構(gòu)的最優(yōu)參數(shù)條
件。 Apreo 能在短時間內(nèi)解決錯綜復(fù)雜的研究問題,適用于需要多功
能以及多用戶操作的應(yīng)用場合。
Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,其創(chuàng)新的末級
透鏡設(shè)計,絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級透鏡
(Apreo C 和 Apreo S)能夠?qū)崿F(xiàn)鏡筒內(nèi)多種信號的同時探測和高分辨
率,而 Apreo S 則結(jié)合靜電、浸沒式磁場的復(fù)合透鏡以進(jìn)一步提高低電壓下
的分辨率,在 1 kV 加速電壓下的分辨率為 1.0 nm,不需要電子束減速。通過
將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現(xiàn)特有的信號過濾功能。
Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1,其位置緊靠樣品,確保在較短的時間
內(nèi)獲得最大量的采集信號。與其他背散射探測器不同,這種快速的探測器在
導(dǎo)航時、傾斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏
感樣品時,探測器的優(yōu)越性能尤為突出,即使電流低至幾 pA,它也能提供
清晰的背散射圖像。Apreo S 復(fù)合末級透鏡通過能量過濾實現(xiàn)高質(zhì)量的材料
襯度以及絕緣樣品的無電荷成像,進(jìn)一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價
值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補(bǔ)充其探測能力,例如定向背散射
探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器 (GAD)。所有這些探
測器都擁有獨(dú)一無二的軟件控制分割功能,以便根據(jù)需求選擇最有價值的樣
品信息
未找到相應(yīng)參數(shù)組,請于后臺屬性模板中添加
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Talos? L120C TEM
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發(fā)布時間:2021-02-23 11:37:04
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