搜索
蔡司FIB-SEM電子顯微鏡Crossbeam系列
蔡司Crossbeam系列專為高通量樣品制備和3D分析而設計的FIB-SEM.
蔡司Crossbeam Laser飛秒激光-FIB解決方案: 針對原位三維分析，首先需要準確定位 ROI，通過對感興趣區域進行針對性的前期刻蝕準備后，完成進一步的 3D 成像及分析。在您的蔡司 Crossbeam 上加裝飛秒激光系統，可大幅度提升樣品制備效率。
上一頁
1
下一頁
暫時沒有內容信息顯示
暫時沒有內容信息顯示
關于瑞高
產品中心
聯系我們
底部-聯系我們
發布時間：2021-02-23 11:37:04
掃一掃，關注瑞高
官方微信公眾號
官方小程序
底部-備案信息
發布時間：2021-02-23 11:37:46
Copyright © 東莞市瑞高電子科技有限公司 網站備案號：粵ICP備12076209號
TOP
TOP